Mit dem auf der K|Lens-Technologie basierenden EE-Scanner ist es möglich die elektronischen Komponenten auf unbekannten Leiterplatten zu erkennen und zu klassifizieren. Dies ermöglicht eine Trennung nach Bauteilen mit ähnlichen Materialzusammensetzungen. Mittels einer selektiven Extraktion bzw. Sortierung entstehen Fraktionen, in denen die nur in vergleichsweise geringen Mengen vorkommende Materialien in einer für die Rückgewinnung ausreichender Konzentration vorliegen. Mit Hilfe von bereits existierende bzw. im Zusammenhang mit der Kreislaufwirtschaft entstehende Datenbanken mit Materialzusammensetzungen kann dieser Ansatz noch verfeinert werden.
Im Vortrag wird das Konzept der Bauteilerkennung und Klassifizierung vorgestellt.
